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F20 薄膜厚度测量仪
您的需要。 F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成
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F32 薄膜厚度测量仪
使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。 F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进
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F54 薄膜厚度测量仪
依靠F54先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。 详细介绍自动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大
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薄膜箔片片材测厚仪
测试结果。济南赛成自主品牌CHY-CA01高精度薄膜片材测厚仪 仪器简介: 行业标准中关于薄膜、片材、铝箔铜箔片等厚度的测量采用的接触式测量方式,济南赛成科技根据GB/T 6672、GB/T
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F60-t 薄膜厚度测量仪
依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。 自动化薄膜厚度绘图系统依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度。 F10-HC薄膜厚度测量仪极具有价格优势的先进薄膜测量系统以F20平台为基础所发
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和
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F10-AR 薄膜厚度测量仪
F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的一台仪器。 F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试
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Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪
即使是较高粗糙度和不均匀性的 材 料 都 可 以 测 量 。几乎所有的半导体和介质材料都可以很好非常迅速的测试,并且在不到一秒钟的时间就可以将数据输出 Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪
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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测最大厚度达3毫米。 F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统F3-sX
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